PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法，用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。在電子產(chǎn)品制造過(guò)程中，PCB板的絕緣性能是至關(guān)重要的，它直接影響著產(chǎn)品的可靠性和安全性。因此，進(jìn)行PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是必不可少的。PCB離子遷移是指在電場(chǎng)作用下，PCB板表面的離子會(huì)遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。這種現(xiàn)象主要是由于PCB板表面的污染物引起的，例如油污、灰塵、水分等。當(dāng)這些污染物存在時(shí)，它們會(huì)在電場(chǎng)的作用下形成離子，進(jìn)而遷移到其他位置，導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。在電子設(shè)備制造和維修過(guò)程中，電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。廣東多功能電阻測(cè)試發(fā)展

智能電阻具有更高的可追溯性。在電子行業(yè)中，產(chǎn)品的質(zhì)量追溯是非常重要的。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試往往無(wú)法提供完整的測(cè)試記錄和數(shù)據(jù)，難以進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的追溯。而智能電阻通過(guò)內(nèi)置的存儲(chǔ)器和通信模塊，可以實(shí)時(shí)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)上傳到云端進(jìn)行存儲(chǔ)和管理。這樣，不僅可以方便地查看和分析測(cè)試數(shù)據(jù)，還可以追溯產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題，及時(shí)采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。智能電阻有望推動(dòng)電子行業(yè)的智能化發(fā)展。隨著物聯(lián)網(wǎng)和人工智能技術(shù)的不斷進(jìn)步，智能電阻可以與其他智能設(shè)備進(jìn)行連接和交互，實(shí)現(xiàn)更高級(jí)的功能。例如，智能電阻可以與智能手機(jī)或智能家居設(shè)備連接，實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制和監(jiān)測(cè)。這將為電子行業(yè)帶來(lái)更多的商機(jī)和發(fā)展空間。湖南電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案選擇智能電阻時(shí)，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。

AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過(guò)程；從產(chǎn)生的條件來(lái)看（都需要符合下面3個(gè)條件）：電解液環(huán)境，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹(shù)脂的結(jié)合間存在缺陷，或線與線間存在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）；加劇其產(chǎn)生的條件類似：高濕環(huán)境（Highhumidityrate）；高電壓（HigherVoltagelevels）；高溫環(huán)境（Highertemperature）；

導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試（Conductiveanodicfilamenttest，簡(jiǎn)稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源，在陽(yáng)極電化學(xué)生成，并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重，究其原因，是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短，這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。測(cè)試控制軟件管理模塊：用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。

5.1.硬件連接與操作步驟1)事先準(zhǔn)備好要求測(cè)試的PCB樣品，接好測(cè)試線，插入相對(duì)應(yīng)的航空座。2)把納伏表和可編程電源安裝好，連接儀器與計(jì)算機(jī)通信線。3)接好機(jī)柜電源，并檢查儀器是否有錯(cuò)誤提示，如有提示需先按照儀器說(shuō)明把錯(cuò)誤提示排除。4)根據(jù)軟件操作設(shè)置開(kāi)始測(cè)試流程。注意：※在測(cè)試的過(guò)程禁止觸摸被測(cè)物品?！箮щ姲尾鍦y(cè)試線的航空頭?！缧柙O(shè)備檢修必須把電斷開(kāi)。本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)由客戶自行購(gòu)買(mǎi)*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求，定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能測(cè)試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測(cè)試電壓，可同時(shí)完成多工況測(cè)試。湖北智能電阻測(cè)試系統(tǒng)

智能電阻具有更加豐富的功能和應(yīng)用場(chǎng)景。廣東多功能電阻測(cè)試發(fā)展

4、在初始的絕緣電阻測(cè)量后關(guān)閉測(cè)試系統(tǒng)，使樣品在65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH、無(wú)偏壓的環(huán)境下靜置96個(gè)小時(shí)（±30分鐘）。96個(gè)小時(shí)（±30分鐘）的靜置期后，在每個(gè)菊花鏈網(wǎng)絡(luò)和地之間測(cè)試絕緣電阻。5、確認(rèn)所有的測(cè)試樣品的連接是有效的，每個(gè)測(cè)試電路對(duì)應(yīng)適當(dāng)?shù)南蘖麟娮?。然后將測(cè)試板與電源相連開(kāi)始進(jìn)行T/H/B部分的CAF測(cè)試。6、確認(rèn)適當(dāng)?shù)钠秒妷阂呀?jīng)被加載在樣品上進(jìn)行周期性測(cè)試。為了比較不同內(nèi)層材料和制程的耐CAF性能，使用100V直流偏壓的標(biāo)準(zhǔn)CAF測(cè)試條件。為了確認(rèn)測(cè)試結(jié)果與實(shí)際壽命之間的關(guān)系，第二個(gè)偏置電壓條件需要選擇給定的最高工作電壓的兩倍。當(dāng)一個(gè)較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時(shí)，更高的偏置電壓由于會(huì)線性地影響失效時(shí)間，應(yīng)該被避免采用。這是因?yàn)檫^(guò)高的偏置電壓會(huì)抵消掉相對(duì)濕度的影響，而相對(duì)濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機(jī)制部分。7、在96個(gè)小時(shí)的靜置時(shí)間后，測(cè)試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。廣東多功能電阻測(cè)試發(fā)展